| Titre : |
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis : a text for biologists, materials scientists, and geologists |
| Type de document : |
texte imprimé |
| Mention d'édition : |
2nd edition |
| Editeur : |
New York : Plenum Press |
| Année de publication : |
cop. 1992 |
| Importance : |
1 volume (xviii-820 pages) |
| Présentation : |
illustrations |
| Format : |
26 cm |
| ISBN/ISSN/EAN : |
978-0-306-44175-2 |
| Langues : |
Anglais (eng) |
| Mots-clés : |
Microscopie électronique , microanalyse à rayons X |
| Index. décimale : |
543.4 Analyse électrochimique (coulométrie, électrophorèse, polarographie) |
| Résumé : |
Ce livre a évolué par des processus de sélection et d’expansion par rapport à son prédécesseur, Practical Scanning Electron Microscopy (PSEM), publié par Plenum Press en 1975. L’interaction des auteurs avec les étudiants lors du cours de courte durée sur la microscopie électronique à balayage et la microanalyse à rayons X qui se tient chaque année à l’Université Lehigh a grandement contribué à l’élaboration de ce manuel. Le matériel a été choisi pour fournir à l’étudiant une introduction générale aux techniques de microscopie électronique à balayage et de microanalyse à rayons X adaptées à des applications dans des domaines tels que la biologie, la géologie, la physique de l’état solide et la science des matériaux. Suivant le format du PSEM, ce livre donne à l’étudiant une connaissance de base de (1) les fonctions contrôlées par l’utilisateur de l’optique électronique du microscope électronique à balayage et de la microsonde électronique, (2) les caractéristiques des interactions électron-faisceau-échantillon, (3) la formation et l’interprétation de l’image, (4) la spectrométrie à rayons X et (5) la microanalyse quantitative à rayons X. Each of these topics has been updated and in most cases expanded over the material presented in PSEM in order to give the reader sufficient coverage to understand these topics and apply the information in the laboratory. Throughout the text, we have attempted to emphasize practical aspects of the techniques, describing those instru ment parameters which the microscopist can and must manipulate to obtain optimum information from the specimen. Certain areas in particular have been expanded in response to their increasing importance in the SEM field. Thus energy-dispersive x-ray spectrometry, which has undergone a tremendous surge in growth, is treated in substantial detail. |
Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis : a text for biologists, materials scientists, and geologists [texte imprimé] . - 2nd edition . - New York : Plenum Press, cop. 1992 . - 1 volume (xviii-820 pages) : illustrations ; 26 cm. ISBN : 978-0-306-44175-2 Langues : Anglais ( eng)
| Mots-clés : |
Microscopie électronique , microanalyse à rayons X |
| Index. décimale : |
543.4 Analyse électrochimique (coulométrie, électrophorèse, polarographie) |
| Résumé : |
Ce livre a évolué par des processus de sélection et d’expansion par rapport à son prédécesseur, Practical Scanning Electron Microscopy (PSEM), publié par Plenum Press en 1975. L’interaction des auteurs avec les étudiants lors du cours de courte durée sur la microscopie électronique à balayage et la microanalyse à rayons X qui se tient chaque année à l’Université Lehigh a grandement contribué à l’élaboration de ce manuel. Le matériel a été choisi pour fournir à l’étudiant une introduction générale aux techniques de microscopie électronique à balayage et de microanalyse à rayons X adaptées à des applications dans des domaines tels que la biologie, la géologie, la physique de l’état solide et la science des matériaux. Suivant le format du PSEM, ce livre donne à l’étudiant une connaissance de base de (1) les fonctions contrôlées par l’utilisateur de l’optique électronique du microscope électronique à balayage et de la microsonde électronique, (2) les caractéristiques des interactions électron-faisceau-échantillon, (3) la formation et l’interprétation de l’image, (4) la spectrométrie à rayons X et (5) la microanalyse quantitative à rayons X. Each of these topics has been updated and in most cases expanded over the material presented in PSEM in order to give the reader sufficient coverage to understand these topics and apply the information in the laboratory. Throughout the text, we have attempted to emphasize practical aspects of the techniques, describing those instru ment parameters which the microscopist can and must manipulate to obtain optimum information from the specimen. Certain areas in particular have been expanded in response to their increasing importance in the SEM field. Thus energy-dispersive x-ray spectrometry, which has undergone a tremendous surge in growth, is treated in substantial detail. |
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