Methods of surface analysis / J. M. Walls

Public ISBD Titre : Methods of surface analysis : techniques and applications Type de document : texte imprimé Auteurs : J. M. Walls, Éditeur scientifique Mention d'édition : 1st paperback ed. Editeur : Cambridge [Cambridgeshire] : Cambridge University Press Année de publication : 1990 Importance : 1 vol. (x, 342 p.) Présentation : ill. Format : 24 cm ISBN/ISSN/EAN : 0-521-38690-X Langues : Anglais (eng) Index. décimale : 620.4 Note de contenu : Methods of surface analysis / J.M. Walls Ion erosion in surface analysis / R. Smith and J.M. Walls Electron and ion energy analysis / M.P. Seah Auger electron spectroscopy / H.E. Bishop X-ray photoelectron spectroscopy / A.B. Christie Static secondary ion mass spectroscopy / J.C. Vickerman Dynamic secondary ion mass spectrometry / D.E. Sykes Ion scattering spectroscopy / D.G. Armour Rutherford back-scattering spectrometry / W.A. Grant Methods of surface analysis : techniques and applications [texte imprimé] / J. M. Walls, Éditeur scientifique  . -  1st paperback ed. . - Cambridge [Cambridgeshire] : Cambridge University Press, 1990 . - 1 vol. (x, 342 p.) : ill. ; 24 cm. ISBN : 0-521-38690-X Langues : Anglais (eng) Index. décimale : 620.4 Note de contenu : Methods of surface analysis / J.M. Walls Ion erosion in surface analysis / R. Smith and J.M. Walls Electron and ion energy analysis / M.P. Seah Auger electron spectroscopy / H.E. Bishop X-ray photoelectron spectroscopy / A.B. Christie Static secondary ion mass spectroscopy / J.C. Vickerman Dynamic secondary ion mass spectrometry / D.E. Sykes Ion scattering spectroscopy / D.G. Armour Rutherford back-scattering spectrometry / W.A. Grant

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